测试标签_第1页

首页 > 标签 > 测试 > 相关文章

透射电镜测试方法有哪些图片

纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间，增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析，二次电子像，以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...

2024-05-02 07:00:221

tem电镜样品
压痕法测断裂韧性实验报告

fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材，以及应用开发和培训。压痕法是一种常用于测试材料韧性的方法。本文介绍了一种使用压痕法测量材料断裂韧性的实验方法,并通过实验结果探讨了材料的断裂韧性。...

2024-05-02 01:10:1438

纳米压痕
静电测试的测试标准

纳瑞科技（北京）有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年，是由在聚焦离子束（扫描离子显微镜）应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。静电测试是一种常见的测试方...

2024-05-01 23:10:1441

tem电镜样品
扫描电镜样品厚度标准规范要求

纳瑞科技（北京）有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年，是由在聚焦离子束（扫描离子显微镜）应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。扫描电镜(SEM)是一种广...

2024-05-01 20:40:1329

tem电镜样品
集成电路专业有哪些国企岗位

纳瑞科技（北京）有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年，是由在聚焦离子束（扫描离子显微镜）应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。集成电路专业是一个重要的领...

2024-05-01 18:10:4729

集成电路
扫描电镜测试标准有哪些内容

纳瑞科技（北京）有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年，是由在聚焦离子束（扫描离子显微镜）应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。扫描电镜(SEM)是一种广...

2024-04-30 17:30:1331

tem电镜样品
红外光谱测定时对固体制样有何要求

红外光谱测定是一种重要的分析技术，用于确定物质的化学结构和官能团。在固体制样分析中，正确的要求以确保测定的准确性和可靠性。以下是对固体制样的一些要求：1.纯度：固体制样需要达到高纯度，以减少其他物质对...

2024-04-30 16:10:5936

tem电镜样品
透射电镜测试中心是什么

纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间，增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析，二次电子像，以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...

2024-04-30 15:10:2024

tem电镜样品
透射电镜测试第三方检测

纳瑞科技（北京）有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年，是由在聚焦离子束（扫描离子显微镜）应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。透射电镜测试是一种非破坏性...

2024-04-30 04:10:1680

tem电镜样品
纳米压痕实验影响测试精度的因素有哪些方面

纳米压痕实验是一种常见的测试材料硬度的方法，它通过在材料表面施加一定压力，测量压痕的大小来确定材料的硬度。由于实验条件的不同，测试精度可能会受到影响。本文将探讨影响纳米压痕实验测试精度的因素。1.试验...

2024-04-29 20:40:1445

纳米压痕