试样标签_第1页

首页 > 标签 > 试样 > 相关文章

透射电镜试样制备方法及其特点

fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材，以及应用开发和培训。透射电镜试样制备方法及其特点透射电镜（TEM，透射电子显微镜）是一种能够对物质进行表征和结构分析的电子显微镜，广泛应用于材料科...

2024-05-03 20:40:171

tem电镜样品
扫描电镜样品的制样步骤有哪些方法进行操作和操作

fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材，以及应用开发和培训。扫描电镜(SEM)是一种广泛用于表面形貌分析的显微镜,可以帮助我们观察微小物体的结构、形貌和表面缺陷。样品的制备是SEM分析的...

2024-05-03 02:50:1543

tem电镜样品
扫描电镜试样尺寸图怎么看出来

纳瑞科技（北京）有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年，是由在聚焦离子束（扫描离子显微镜）应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。扫描电镜(Scanning...

2024-05-02 10:50:1431

tem电镜样品
压痕法测断裂韧性实验报告

fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材，以及应用开发和培训。压痕法是一种常用于测试材料韧性的方法。本文介绍了一种使用压痕法测量材料断裂韧性的实验方法,并通过实验结果探讨了材料的断裂韧性。...

2024-05-02 01:10:1447

纳米压痕
红外试样制备方法主要有几种

纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间，增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析，二次电子像，以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...

2024-05-01 20:30:1434

tem电镜样品
红外光谱液体试样的制备方法视频

fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材，以及应用开发和培训。红外光谱是一种重要的分析技术，可以用来检测和测量分子的结构和化学成分。在实验研究中，通常需要制备样品才能进行红外光谱分析。本文...

2024-04-30 00:00:1480

tem电镜样品
扫描电镜断口分析实验报告

扫描电镜断口分析实验报告摘要扫描电镜断口分析是一种重要的材料分析技术。本文介绍了一种扫描电镜断口分析实验的方法和结果。我们使用了一台扫描电镜和一组金相试样,通过观察扫描电镜图像中的断口结构,对试样的组...

2024-04-29 23:00:1361

tem电镜样品
红外光谱测绘时,对固体试样的制样有何要求

fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材，以及应用开发和培训。红外光谱测绘是一种分析固体试样化学成分和结构的重要技术。在测绘过程中，制样过程对于测量结果的准确性和可靠性至关重要。因此，对固...

2024-04-29 20:21:3458

tem电镜样品
扫描电镜与金相显微镜

纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间，增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析，二次电子像，以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...

2024-04-29 13:30:1937

tem电镜样品
扫描电镜试样尺寸是多少合适

fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材，以及应用开发和培训。扫描电镜是一种非破坏性、高分辨率的显微镜，广泛应用于材料科学、电子工程、生物医学等领域。在扫描电镜实验中，试样的尺寸对于实验结...

2024-04-29 07:30:1843

tem电镜样品